Speaker
liao, jianwei
(Institute of Modern Physics, CAS)
Description
在轨卫星上使用了大量的集成电路，但是由于其所处的特殊空间辐射环境，重离子、高能质子等射线击中集成电路，会导致集成电路出现单粒子效应。对于研究人员，我们非常关心集成电路单粒子效应的发生概率以及单粒子敏感点，从而针对性提高其抗辐射能力。为了提高单粒子效应的效率和准确性，提高航空航天集成电路的研发进程，我们基于先进硅像素芯片提出了一套用于单粒子效应高效率微米级定位的装置，名字叫Hibeam-SEE，该装置能够精确定位束流中的每个引发单粒子效应的重离子在被测集成电路上的击中位置。Hibeam-SEE系统包含三个部分，重离子定位系统，单粒子检测系统，在线粒子定位算法。重离子定位系统能够实时定位束流中每个粒子的径迹，通过外部触发信号进行数据读出。单粒子检测系统实时检测被测器件是否发生单粒子效应，当发生单粒子效应时，需要为重离子定位系统提供触发信号。粒子定位算法将重离子定位系统读出的数据进行图像重建，并检测图像中的粒子径迹，通过径迹计算出重离子在被测器件上的击中位置。重离子定位系统经过几次迭代测试，对于激光和重离子都能实现较高的位置分辨；单粒子检测系统能够实现目前市面上常见器件的单粒子效应检测；粒子定位算法在处理单张图像超过25条径迹时，速度能达到110+fps。
Primary author
liao, jianwei
(Institute of Modern Physics, CAS)
