Speaker
魏, 鹤鸣
(西北工业大学)
Description
光子计数检测是一种极具前途的计算机断层扫描 （CT）方法。它具有高的空间分辨率，没有电子学噪声以及可提高组织对比度等特点。CdZnTe （CZT）由于其优秀的物理性质，被公认为是实现光子计数技术的最佳材料之一。利用近空间升华法 （CSS）生长的CZT外延单晶具有生长速率快 （10μm/s），低成本并且可制备大尺寸等优点。本文研究了CZT外延单晶的器件制备以及其光子计数特性。通过改变X射线辐照剂量，CZT外延单晶探测器的光子计数率可达到2.34 Mps/channel并且未产生明显的极化现象，其光子技术率可以与CZT单晶相媲美 （2.46 Mps/channel）。并通过I-V、I-T光响应、能谱测试结果得出该探测器具有高的电阻率3.7×1010 Ω‧cm， X射线响应灵敏度249.42 μC Gy-1‧cm-2和载流子迁移率寿命积 （μτ）e 5.01×10-4 cm2/V,该结果与具有优异的光子计数特性相吻合。最后通过改变外加偏压研究对该探测器光子计数性能的影响，并揭示外加偏压可对光子计数特性起到优化作用。
关键词：CZT外延单晶；近空间升华法，X射线探测， 光子计数率
Primary author
魏, 鹤鸣
(西北工业大学)
